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Foveon Chip oder Bayer Pattern – Geeignete Sensoren zur Aerophotogrammetrie mit UAS

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Metadaten
Author:Ansgar Greiwe, Ralf Gehrke
ISBN:978-3-87907-528-7
Parent Title (German):Photogrammetrie, Laserscanning, optische 3D-Messtechnik : Beiträge der Oldenburger 3D-Tage 2013
Publisher:Wichmann
Place of publication:Berlin
Editor:Thomas Luhmann, Christina Müller
Document Type:Part of a Book
Language:German
Year of Completion:2013
Tag:FOVEON, Bayer Pattern
GND-Keyword:Luftbildmessung , Photographie , Sensor
First Page:334
Last Page:343
Institutes:Fachbereich 1: Architektur, Bauingenieurwesen, Geomatik
DDC classes:Naturwissenschaften und Mathematik / Astronomie, Kartografie
Licence (German):License LogoEs gilt das UrhG